ED-XRF spektrometr - prvková analýza
Naše pracoviště je vybaveno energiově disperzním ručním spektrometrem Elva Prospector3 Max s těmito parametry:
- Digitálně řízená Rh rentgenka s budícím napětím pracujícím až do 50kV, výkon rentgenky minimálně 5W, proud 200 µA
- SSD detektor s grafenovým okénkem s využitou aktivní plochou min 40mm2 a rozlišením lepším jak 140eV na čáře MnKa při počítací rychlosti 200 000 cps
- Grafénové okénko 1 µm – pro dosažení maximální citlivost a detekčních limitů při analýze lehkých prvků v rozsahu od Na – U při analýze bez He proplachu
- Automaticky výměnné předfiltry rentgenky (8 pozic pro filtry, 7 osazených filtrem pro dosažení maximální univerzálnosti použití)
- Automatická výměna dvou kolimátorů, velký kolimátor s ozařovanou plochou 40 mm2 nebo větší a malý kolimátor pro ozařovanou plochu 5 mm2 nebo menší.
- Plně digitální procesor pulzů, ve spojení s dodaným detektorem musí být schopen zpracovávat minimálně 800 000 impulzů za 1 s při mrtvém čase maximálně 35%.
- Integrovaná CCD kamera pro zobrazení měřené plochy s přesným zobrazením velikosti ozařované plochy dle zvoleného kolimátoru
- Integrovaný software na přístroji umožňující bezkalibrační analýzu slitin kovů, obecná bezkalibrační metoda s automatickým dopočtem lehké matrice, metoda pro analýzu oxidových vzorků
Jedná se o zcela nedestruktivní prvkovou analýzu povrchu, přičemž hloubka penetrace záření do vzorku je velmi malá (řádově desítky mikrometrů) a tak výsledek měření vypovídá především o složení povrchu. To je důležité hlavně v případě, že je vzorek pokryt silnou vrstvou korozních produktů nebo v případě povrchových efektů. Dalším problémem je pokovení slabou vrstvou jiného kovu (zlacení, stříbření). V tomto případě vždy záleží na tloušťce pokovení, zda analyzujeme jenom pokovení nebo i podkladový materiál, což je většina případů. Jestliže je požadováno stanovení přesného prvkového složení slitiny kovu, je třeba kompletně odstranit korozní produkty z měřené plochy či odebrat vzorek z kovového jádra předmětu. Velmi důležitým faktorem je výběr reprezentativního místa měření, což je u archeologických a historických nehomogenních materiálů často velmi významný problém. Výsledkem analýzy je kvantitativní složení měřeného vzorku.
Příklady aplikace
- Stanovení prvkového složení kovových artefaktů a archeologických nálezů (železných, bronzových, zlatých…)
- Určení způsobu zlacení (žárové, plátkové, galvanické…)
- Stanovení pokovení
- Analýza pigmentů v malbách a freskách
- Sklo a keramika – kontrola obsahu Si, Al, Ca, K, Na atd.
- Metalurgie – stanovení složení slitin, jako jsou ocel, hliník, mosaz atd.
| Prvková analýza ED-XRF ručním spektrometrem Elva Prospektor3 Max** |
|---|
| 300 Kč / 1 měření 500 Kč / protokol |
**ED-XRF ruční spektrometr - parametry: Digitálně řízená Rh rentgenka- budící napětí do 50kV, proud 200 µA, výkon 5W, 8 filtrů, 2 kolimátory pro flexibilní řízení paprsku. Velmi citlivý SSD detektor s grafenovým okénkem, rozlišení pod 140 eV, na čáře MnKa při počítací rychlosti 200 000 cps, Grafénové okénko 1 µm – pro dosažení maximální citlivost a detekčních limitů při analýze lehkých prvků v rozsahu od Na – U při analýze bez He proplachu.
Ceny jsou uvedeny bez DPH za každou započatou hodinu, případně za jedno měření či protokol. Ceník je platný od 1. 6. 2025.